3. 可靠性驗(yàn)證和芯片分析平臺(tái)
該平臺(tái)可以進(jìn)行:
(1) 集成電路的可靠性測(cè)試驗(yàn)證,包括靜電測(cè)試、EMC測(cè)試等;
(2) 可以進(jìn)行各種芯片分析,如芯片中電阻等器件的測(cè)試等;
(3) 集成電路的應(yīng)用分析等。
編號(hào) |
名稱 |
數(shù)量 |
1 |
可靠性測(cè)試用的SKS04042B群脈沖發(fā)生器 |
2臺(tái) |
2 |
可靠性測(cè)試用的SKS0510I雷擊浪涌發(fā)生器 |
1臺(tái) |
3 |
可靠性測(cè)試用的SKS-0220G靜電發(fā)生器 |
1臺(tái) |
4 |
芯片器件測(cè)試探針臺(tái)PW-800 |
1臺(tái) |
5 |
可程控LCR測(cè)試儀E4980A 20Hz-2MHz |
1臺(tái) |
6 |
交直流耐壓絕緣測(cè)試儀Chroma 19073 |
1臺(tái) |
7 |
混合域示波器MDO4104C (500M) |
1臺(tái) |
8 |
任意函數(shù)信號(hào)發(fā)生器AFG1062(60M) |
1臺(tái) |
9 |
集成電路驗(yàn)證所需要的示波器DS5062CA |
20臺(tái) |
10 |
集成電路驗(yàn)證所需要的頻譜分析儀DSA815 |
1臺(tái) |
可靠性驗(yàn)證平臺(tái)場(chǎng)景:

SKS04041B

SKS0510I

SKS-0220G:

E4980A 20Hz-2MHz:

Chroma 19073:

MDO4104C (500M):

AFG1062(60M):

PW-800:


